W.M. Keck Laboratory for Atomic Imaging and Manipulation University of North Carolina at Chapel Hill
简介:
秦禄昌1978年考入中国科技大学少年班,1982年毕业于近代物理系。同年考入中科院金属研究所学习电子显微学。1990年获美国西北 (Northwestern) 大学工学硕士学位,1994年获美国麻省理工学院(MIT)科学博士(ScD)学位。自1986年起,曾在澳大利亚CSIRO材料科学与技术研究所及格林菲斯(Griffith)大学、英国布里斯托尔(Bristol)大学、德国尤利希(Juelich)研究中心、美国阿贡国家实验室及IBM公司、日本NEC公司及科学事业振兴事业团从事研究及生产管理工作。发表论文100余篇及多项专利。现任美国北卡洛莱纳大学(University of North Carolina at Chapel Hill)物理与天文系教授、应用科学与工程系教授、Keck实验室主任。主要从事电子衍射与电子显微学、纳米管及纳米线的合成、性能、结构表征、纳米器件以及新能源材料与器件的研究与应用。